在全球目光的注视下，CIMT展会“”技术不断涌现。临高蔡司在展会首日亮相亚洲等新品。在同期举行的新品发布会上，以“创新塑造”为主题的“衡量未来，智能软件”与现场观众进行了热烈的讨论和互动。在展示的临高工业CT、3D探头、机器人+光学探头、智能软件等产品和解决方案中，未来的品质保障之路已然明朗。

　　亚洲首秀的新型工业CT无损测量技术METROTOM实现了锥形束X射线断层扫描与坐标测量技术的完美融合。它结合了高精度和多功能的特点，有效替代了传统复杂耗时的检测方法。 ，解决产品尺寸和形状公差测量、孔隙率分析、装配检验、模具修改、逆向工程等行业应用难题的难于触及和隐藏的部分。可无缝满足塑料工程、铝压铸、汽车、电子、精密机械、科研检测等行业的需求。

　　同时，值得注意的是，传感器和探头正在将以往和未来的“高科技”体验带入测量中，在蔡司的CIMT展台上随处可见。此次推出的新型探头蔡司DotScan白光探头已集成到整个蔡司测量系统中。配备 DotScan 共焦白光探头的蔡司 ACCURA 多探头平台也是市场上款安装在通用旋转探头上的白光探头。

　　全新光学传感器 LineScan：可自由应用在蔡司 CONTURA RDS 机型上，带来更精准、更直观的测量。使用 LineScan 可以扩展蔡司 CONTURA 的功能，它具有快速光学测量的特点。它可用于测量汽车零部件、模具和产品，以及对接触敏感或具有精细结构的表面。

　　作为一种新型的粗糙度传感器，在蔡司坐标测量机(CMM)上完成符合标准的粗糙度和波纹度检测。新的蔡司 ROTOS 粗糙度传感器在质量保证检查中执行一种新的、更简单的工作流程。 .其目的是在测量机上测量尺寸、位置或形状，并测量同一工件的粗糙度和波纹度。

　　此次展出的钨丝临高扫描电子显微镜EVO帮助客户在质量标准日益严格的现代工业化工业中进一步检查样品的微观形貌。它具有3nm的成像分辨率，无论是工件表面的微裂纹、断裂还是裂纹。夹杂物和第二相在EVO观察下清晰可辨，不可见。

　　SEM可以在高分辨率成像的同时，通过EDS能谱准确高效地检测模具裂纹、第二相或杂质的元素组成信息，从而更深入地了解失效过程。在蔡司，您不仅可以通过金相显微镜观察材料结构，还可以使用电子显微镜进一步放大微观区域并进行元素分析，以寻找其失效的根源。

　　粒度分析结合光镜和电镜，帮助您严格控制汽车零部件、模具、精密机械和航空航天零部件的质量标准，直接定位故障源。

　　硬件技术不断发展的主要前提，软件技术同样需要大踏步前进。因此，Zeiss PiWeb Reporting 已成为测量机的主流配置。作为蔡司测量软件包的一部分，它分析和记录测量结果。